XFusion API v1.3.0
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扫描 (发现, seek) 参数 更多...
#include <xf_sle_device_discovery_types.h>
成员变量 | ||
xf_sle_addr_type_t | own_addr_type | |
bool | filter_duplicates | |
xf_sle_seek_filter_t | seek_filter_policy | |
xf_sle_seek_phy_t | seek_phy | |
struct { | ||
xf_sle_seek_type_t seek_type | ||
uint16_t seek_interval | ||
uint16_t seek_window | ||
} | phy_param_set [XF_SLE_SEEK_PHY_NUM_MAX] | |
扫描 (发现, seek) 参数
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 265 行定义.
xf_sle_addr_type_t own_addr_type |
对端地址,见 xf_sle_addr_t
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 266 行定义.
bool filter_duplicates |
重复过滤开关,0:关闭,1:开启
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 267 行定义.
xf_sle_seek_filter_t seek_filter_policy |
扫描过滤类型,见 xf_sle_seek_filter_t
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 268 行定义.
xf_sle_seek_phy_t seek_phy |
扫描 PHY 类型,见 xf_sle_seek_phy_t
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 269 行定义.
xf_sle_seek_type_t seek_type |
扫描类型,见 xf_sle_seek_type_t
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 272 行定义.
uint16_t seek_interval |
扫描间隔,取值范围[0x0004, 0xFFFF],time = N * 0.125ms
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 273 行定义.
uint16_t seek_window |
扫描窗口,取值范围[0x0004, 0xFFFF],time = N * 0.125ms
在文件 xf_sle_device_discovery_types.h 第 274 行定义.
struct { ... } phy_param_set[XF_SLE_SEEK_PHY_NUM_MAX] |
扫描 PHY 参数集合